為什么要進行近場測試?
近場測量特別適合進行組件和設備開發的工程師使用，他們使用近場測量來獲得干擾發射原因的重要數據。近場測量方法得到的信息和這些數據，能定位干擾源，從而采取相應措施以減少電磁干擾。
一、超標條件判斷：與EN55022和EN55011輻射標準相對應的超標條件，近場測量是開發人員的核心出發點。開發人員都知道采用天線進行干擾標準測試或預規性遠場測量是比較麻煩的。近場分析是減少輻射干擾一個實用的方式，通過它找到干擾源并得到合適的應對措施，特別適合在產品開發期間探測PCB 板的電磁場情況。
四、近場測試起點：近場分析的初衷是要得到一個理想的磁場分布，這非常必要。 RF-R400、RF-R3、RF-R0.3、RF-R50和MFA-R0.2 磁場探頭特別適合這個應用。近場測試使其成為可能：
1、在關鍵的模擬應用中具有重要的頻率測量，確定輻射器件、結構部件和/或設計結構；
2、確定部件和布局區域的磁場方向和強度；
3、毗鄰顯示器和插頭連接器，檢測模塊的磁性耦合；
4、在模塊附近測量磁場。
要跟蹤干擾來源，在模塊上確定具有干擾頻率的電流路徑并追尋他們，這非常必要，如果有必要的話，還可到集成電路的管腳。海洋儀器推出的RF-U2.5和RF-U5等高分辨率近場探頭甚至可測量更細的管腳或細導線。
五、近場探頭用來做什么？
1、定位具有快速緣的引線和引腳，如時鐘線和總線驅動；
2、評估IC電路的旁路電容，如終端電感；
3、評估引線上的濾波措施，如總線引線；
4、主要應用于查找干擾源，判定干擾產生的原因；
5、檢測器件或者是表面的磁場方向及強度；
6、檢測磁場相合的通道，從而調整連接器或者顯示器位置；
7、檢測模塊附近的磁場環境情況。
總之，為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或其傳播途徑是非常必要的，通過近場測量可以很方便的實現定位的功能，甚至可以精確到IC引腳以及具體的走線。
六、海洋儀器全系列近場探頭磨盤，滿足不同需要
如左圖所示，各種寬頻率范圍的近場探頭， 最高可到10GHz ，并且具有多種形狀， 可以完成幾乎所有的電磁場測試任務。
通過移動磁場探頭可以檢測出磁場的方向和分布，適用于IC引區域、濾波電容、EMC器件等的磁場檢測；電場近場探頭可以檢測導體表面產生的電場。
尤其無源近場探頭可以直接連到頻譜分析儀或者示波器的50Ω輸入端， 方便檢查使用不同手段對磁場或者電流的變化。
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