OItek帶您在PCB板上“秀干擾”

研發好工具：定位電磁場敏感點、測量瞬態電磁場空間分布、評估電路或電路板對瞬態電磁場抗干擾能力！

OIE1研發階段抗擾度測試套件也為抗干擾開發系統，用來模擬所開發出來設備的干擾過程，干擾電流、電場和磁場直接注入到電子模塊，以不同方式來確定電路板上的敏感結構，了解耦合機制，使設備達到最佳抗干擾能力。

眾所周知，產品抗干擾設計來源于企業對產品質量的追求，同時也是電磁兼容性測試（EMC）標準的要求。同時，在抗干擾測試和設計中，由于瞬態干擾具有快速和寬頻譜等特點， 傳統示波器和頻譜分析儀等手段，都無法準確測量瞬態電磁場和很難測量干擾電流的路徑。以往產品的抗干擾設計，只能在產品定型后最終測試階段來考慮；此時，采取的手段是屏蔽或濾波，對外界干擾進行屏蔽隔離或者濾波直接引到接地系統。海洋儀器推出的抗干擾開發系統，具備的多種組成工具，幫助工程師采用多種策略來檢測電路或印刷電路板上的抗干擾問題，尤其抗瞬變突發干擾能力。

OIE1抗干擾開發系統在近場電磁兼容性（EMC）測試中，符合以下EMC突發干擾測試項目：GB/T-17626.4（IEC61000-4-4）電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗、GB/T-17626.2（IEC61000-4-2）靜電放電抗擾度試驗、GJB151A/152A-CS115電纜束注入脈沖激勵傳導敏感度、GJB151A/152A-RS105瞬變電磁場輻射敏感度。

五大組合和措施實現抗干擾調試。

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