高級損耗因子測量技術

　　一． 負損耗D問題

　　許多用戶在使用 LCR 數字電橋或電容測量儀測量小損耗電容器時經常會遇到如下問題：

　　為什么使用上述儀表對電容器進行測量時損耗有時會顯示負值？

　　從物理含義來說損耗表示電容器中耗能成分（即電阻成分）對儲能成分所占的比重，而電阻是不可能為負的。

　　如對于串聯等效方式損耗因子

　　對于并聯等效方式損耗因子

　　以下從幾個方面說明產生負損耗的原因，并討論如何正確使用儀表的方法，以幫助理解和解決此類問題。

　　二． 負損耗D產生的原因

　　概括起來說，有以下幾個方面的原因可能會引起負損耗的產生：

　　A． 測試儀表有限的準確度；

　　B． 過度的補償（過度的短路清“0”）；

　　C． 接觸電阻的影響；

　　D． 存在于測試電纜和測試端子間的復雜雜散參數。

　　A．測試儀表有限的準確度

　　任何元件參數測試儀器的準確度均是有限的，由于有限的準確度便會造成測試的不確定性。

　　從原理上，電容器的損耗在阻抗平面上可表示為阻抗矢量與虛軸夾角δ 的正切值，圖1 所示。

　　當電容器以串聯等效方式描述時，損耗可以下述公式計算：

　　更多資料請下載：高級損耗因子測量技術(D參數).pdf

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