OIE1抗干擾測(cè)試系統(tǒng)中文手冊(cè)
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- 標(biāo) 簽：OIE1,抗干擾測(cè)試,系統(tǒng),中文手冊(cè)
- 分 享：
- 上傳日期：2016-07-07
- 下載次數(shù)：101
- 文件格式：pdf
- 文件大小：1.85 MB
文檔簡(jiǎn)介：
對(duì)被測(cè)物施加突發(fā)干擾，再現(xiàn)被測(cè)物出現(xiàn)故障的現(xiàn)象；采用不同方式，向電子模塊直接注入突發(fā)性電磁場(chǎng)干擾，定位電路板上的電磁薄弱點(diǎn)，理解耦合激勵(lì)，并完成最優(yōu)化的設(shè)計(jì)修改。本資料為E1近場(chǎng)抗干擾開發(fā)系統(tǒng)的中文說明書?。
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