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產品介紹：
由于集成電路集成度以及時鐘速率的不斷提高，PCB板上存在大量雜散場和雜散電流，并以磁場形式相互耦合，導致產生GHz以上級別的輻射騷擾。由于PCB板上大量安裝高密度SMD器件，只有使用高分辨率探頭，才能真正找出電磁干擾的問題所在。
OI-IC系列無源近場探頭如果安裝在OI-EAS系列EMI掃描儀上，配套相應自動測試軟件和干擾接收機，可實現對PCB板上布線、元器件或IC引腳的電磁泄漏場的自動掃描測試。
在任何PCB板上，很少存在純粹的電場或磁場輻射。分別使用電場和磁場兩種探頭，來了解騷擾的本質，并確定導致該問題的根本原因，這些對于排查騷擾十分重要。一般情況下，磁場泄露是由于PCB板走線、線纜等導致的，而電場泄露則是由相鄰走線和信號平面之間的電壓差造成的。不同信號路徑設計將會導致不同區域內不同類型電場或磁場占主導地位；因此，同時具備觀測以上兩個方面場的分析功能，能夠在測量分析過程中帶來更多的靈活性。
根據近場探頭探測場強量的不同，OI-IC系列近場探頭分為電場探頭（OI-ICE40）和磁場探頭（OI-ICH40）。
OI-ICH40是一款頻率高達40GHz，用于測量磁場強度的無源近場探頭。測量頭通過特殊的阻尼系統與電纜屏蔽層分離。此外，探頭還包含一個電流衰減器；探頭具有50Ω的內部匹配網絡。近場探頭的特殊探頭尖端可直接在IC引腳或單個引腳上進行測量，用于定位磁場源的導線軌跡。
產品參數：
校準因子（dB）
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